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日立SU-8010 二手掃描電鏡通過對(duì)樣品二次電子、背散射電子的采集，可進(jìn)行物質(zhì)微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)、線、面掃描測(cè)試。 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優(yōu)點(diǎn)，性能有進(jìn)一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對(duì)于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測(cè)的低原子序數(shù)樣品。

二手 日立 SU8020 高分辨冷場(chǎng)發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細(xì)胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。

SU-8010 日立 二手冷場(chǎng)發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進(jìn)行觀察及圖像處理?？蓪?duì)金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進(jìn)行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡(jiǎn)稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

二手 日立 S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察和檢測(cè)體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無機(jī)材料（非磁性）等表面形貌和組成

二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

二手 日立 SU-8010 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達(dá)10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時(shí)達(dá)到1.0nm，在加速電壓1KV時(shí)達(dá)到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.

二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。